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型號(hào):BKTEM-Dx
熱電材料性能測試儀

描述:熱電材料性能測試儀由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-11-15
  • 訪問量

    2932
詳細(xì)介紹
品牌Bigdipper/北斗星儀器應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,電氣

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀介紹:

關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效。

熱電材料性能測試儀

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是是其對(duì)熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

測試原理:

原理:

(1)通過測量派對(duì)或器件開路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的輸出功率。

(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測量通過熱電派對(duì)或器件的熱流量,其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是:當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí),其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過校準(zhǔn)的通過熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量,即為通過派對(duì)或器件的熱流。

(3)大輸出功率與通過的熱流相比求得轉(zhuǎn)換效率。

適用范圍:

1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

2、地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

4、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,過程自動(dòng)控制,界面友好。

技術(shù)特點(diǎn):

解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。

每次可測試1-3個(gè)樣品。

采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。

具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)。

主要技術(shù)參數(shù):


BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

測量溫度

室溫-600℃

室溫-600℃

室溫-600℃

同時(shí)測試樣品數(shù)量

1個(gè)

2個(gè)

3個(gè)

控溫精度

0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃)

熱流量測量

采用溫差電熱流計(jì)測量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流

測量原理

塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測量范圍

塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率

塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù):10nOhm

測量精度

塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

樣品尺寸

方條形:2-3×2-3mm×10-23mm長

熱電偶導(dǎo)距

≥6mm

電流

0to160mA

氣氛

減壓He(具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng),真空工況下,真空度:≤6×10-2Pa)

加熱電極相數(shù)/電壓

單相,220V

熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率

0.01W~10W

夾具接觸熱阻

≤0.05m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理




熱電材料性能測試儀

單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖

熱電材料性能測試儀

圖2雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖

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